ΑνακοινώσειςΕπικοινωνίαΣύνδεσμοι
Προβολή Εργασίας

Νανοτεχνολογίες 2
01 Jun 2007, 11:15 - 13:00
Εργασία NT368
ΜΕΛΕΤΗ ΜΕ XPS ΤΗΣ ΕΠΑΓΟΜΕΝΗΣ ΑΠΟ ΦΩΤΟΝΙΑ ΑΚΤΙΝΩΝ?X ΦΩΤΟΔΙΑΧΥΣΗΣ AG ΣΤΗΝ ΔΟΜΗ ΑΜΟΡΦΩΝ ΥΜΕΝΙΩΝ AS50SE50
Μ. Καλύβα1, Α. Σιώκου1, Σ. Γιαννόπουλος1, T. Wagner2, M. Krbal2, J. Orava2
1 ΙΤΕ/ΕΙΧΗΜΥΘ
2 Department of General and Inorganic Chemistry, University of Pardubice
ΣΥΝΤΟΜΗ ΠΕΡΙΛΗΨΗ
Έχει παρατηρηθεί ότι όταν στρώμα μέταλλου όπως χαλκός ή άργυρος που βρίσκεται σε επαφή με άμορφο υμένιο υάλου χαλκογόνων ακτινοβοληθεί με δέσμη φωτονίων ή ηλεκτρονίων προκαλείται διάχυση και διάλυση του μετάλλου στην δομή του υμενίου. Στην παρούσα εργασία, ένα λεπτό στρώμα Αg πάχους 6 nm αποτέθηκε με εξάχνωση πάνω σε άμορφο υμένιο As50Se50 το οποίο παρασκευάσθηκε με παλμική εναπόθεση με laser (PLD) σε υπόστρωμα Si. Οι αλλαγές που προκλήθηκαν κατά την ακτινοβόληση στην χημική σύσταση της επιφάνεια του υμενίου διερευνήθηκαν in situ με Φασματοσκοπία Φωτοηλεκτρονίων από Ακτίνες?Χ (XPS).

Λέξεις Κλειδιά
άμορφα υμένια, ύαλοι χλκογόνων, φωτο-διάχυση μετάλλων, φασματοσκοπία φωτοηλεκτρονίων



Τελευταία Νέα
04.06.2007
Βεβαιώσεις Παρακολούθησης
25.05.2007
ΟΔΗΓΙΕΣ ΓΙΑ ΤΙΣ ΠΑΡΟΥΣΙΑΣΕΙΣ
16.05.2007
Τελικό Πρόγραμμα του 6ου Πανελληνίου Επιστημονικού Συνεδρίου Χημικής Μηχανικής